扫描型双光速紫外可见分光光度计UV756佑科

扫描型紫外可见分光光度计  UV756  仪器特点：
1. 采用1200条/mm高性能光栅。新型的光源控制系统，使仪器光源切换更快速。
2. 精确的2nm带宽，使测试数据更准确。使用进口长寿命光源，使仪器光源切换更快速。
3.特有的波长控制系统，使波长精度更高。改良的光学系统，使测试更准确。
4.采用进口的光电转换器，使仪器的灵敏度更高。
5.新型的微电脑数据处理系统。使仪器的使用更简便，稳定性也很好。
6.仪器采用128*64位点阵液晶显示器，可直接显示标准曲线和测试数据，主机可存储测试数据，并可选配打印机；
UV756CRT型紫外可见分光光度计在UV756的基础上增加了全波段自动扫描功能和连接微机功能。

扫描型紫外可见分光光度计  UV756  仪器参数：
波长范围：190-1100nm 
波长准确度：±0.5nm
波长重复性：0.2nm
光谱带宽：2nm
透射比准确度：±0.5%T
透射比重复性：0.2%T
光度范围：-3~3A ，0-200%T，0~9999C
基线平直度：±0.001A/h
杂散光：0.05%T@220nm、360nm
稳定性：±0.001A/小时 @500nm
显示方式：128*64位点阵液晶显示
Rs232通讯：USB接口
打印机：选配
分析软件：支持
自动八联比色池：选配
光学系统：双光束比例监测
噪声水平：±0.001A/2min@500nm